|
Иллюстрация с сайта Научной лаборатории в Лос-Аламосе
|
В Научной лаборатории в Лос-Аламосе (Los Alamos Scientific Laboratory), США, разработали новую технологию обнаружения и анализа отпечатков пальцев, передает агентство Associated Press.
Как рассказал руководитель проекта Кристофер Уорли (Christopher Worley), они изобрели метод определения рисунка по свечению химических элементов при облучении отпечатка рентгеновскими микролучами.
По словам ученого, при обычном способе определения отпечатков пальцев приходится применять специальный порошок, а это может изменить рисунок. При новой технологии отпечаток не меняется, так как подвергается только воздействию рентгеновских лучей.
Сотрудники лаборатории полагают, что в некоторых случаях их метод может выявить отпечатки пальцев на таких поверхностях, на которых другим способом их найти невозможно.
Кроме того, сканирование позволяет определить химический состав отпечатка, что поможет, например, установить контакт пальцев подозреваемого со взрывчатыми веществами.
Уорли отметил, что технология сканирования, конечно, не нова. Однако ученые в лаборатории Лос-Аламоса смогли разработать необходимое программное обеспечение и приемы работы с оборудованием, чтобы увидеть и использовать результаты такого сканирования.
Оборудование, необходимое для облучения поверхностей микролучами, стоит около 175 тысяч долларов. Чтобы провести более подробные испытания технологии, сотрудники лаборатории планируют сотрудничать с полицией штата Нью-Мексико, добавляет агентство.
